Deutscher Test Slide - Grayfield Optical - Hochauflösende optische Mikroskope

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Deutscher Test Slide

Technologie

Die folgenden Bilder zeigen einen deutschen Testchip, der für die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) hergestellt wurde.


Dieser Objektträger ist nur für Auflicht ausgelegt und wir haben festgestellt, dass er eine ausgezeichnete Qualität für den Test unserer Mikroskope bis hinunter zu 100nm aufweist.

Auf der Mikrometerskala wird der Abstand zwischen den ersten beiden Linien gemessen (1 Mikrometer = 1000nm).



PTB Test Chip, General View
PTB Chip, Enlarged central Section
PTB Test Chip, µm Scale
PTB Test Chip, 300nm down to 100nm
PTB, 200nm and 100nm
PTB Test Chip, 100nm Resolution
© Copyright 1976-2023: Grayfield Optical, Inc.
© 1976-2022: Grayfield Optical, Inc.
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