SeeNano versus Rasterelektronenmikroskop - Grayfield Optical - Hochauflösende optische Mikroskope

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SeeNano versus Rasterelektronenmikroskop

Vergleich
Rasterelektronenmikroskop

Ein Rasterelektronenmikroskop kann eine beträchtliche Tiefenschärfe (größer als die des SeeNano-Systems) und sehr hochwertige Schwarz-Weiß-Bilder liefern. Die Auflösungsfähigkeiten der SeeNano-Mikroskope reichen bis in den Bereich der mittleren SEM und bieten gleichzeitig eine Reihe von Vorteilen:

  • Keine Sputterbeschichtung oder Färbung erforderlich
  • Kein Vakuum erforderlich, Betrachtung unter normalen Raumbedingungen
  • Die Probe muss nicht verkleinert werden, um in eine Kammer zu passen
  • Nicht destruktiv für lebende Organismen
  • REM-Bilder werden in einem Winkel von 45° aufgenommen, was zu Bildverzerrungen führt!
  • SeeNano-Bilder können in jedem Winkel zwischen 45-90° aufgenommen werden.
  • Messbar in der X-, Y- und Z-Achse
  • Natürliche Farben und Graufeldkontrast liefern mehr Bildinformationen
  • Die konfokale Bildgebung ermöglicht die Betrachtung unter der Oberfläche von Gewebeproben
Rasterelektronenmikroskop
REM-Aufnahme eines Computerchips, fotografiert im 45°-Winkel in Schwarzweiß
SEM Image stretched to simulate 90° angle
REM-Bild korrigiert (gestreckt), um einen 90°-Winkel zu simulieren
Schraube für den Einsatz in der Automobilindustrie. REM
SeeNano Microscope
Fotografiert im 90° Winkel mit DOF in Farbe
Präzise Bilder in der X- und Y-Achse bei 90°
Schraube für den Einsatz in der Automobilindustrie.
© Copyright 1976-2022: Grayfield Optical, Inc.
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